National Instruments (NI) introducerer en ny NI Semiconductor Test System (STS) serie til test af RF- og mixed-signal halvlederkredse. Disse PXI-baserede automatiserede testsystemer reducerer testomkostningerne for test af RF- og mixed-signal kredse ved at give testingeniører direkte adgang til NI’s og andre leverandørers PXI-moduler i halvleder-produktionstestmiljøer. Sammenlignet med konventionelt ATE-udstyr (Automated Test Equipment) til test af halvlederkredse oplever førende brugere af NI’s STS reducerede produktionsomkostninger og en øget gennemløbshastighed, og de kan nu udføre både karakterisering og produktionstest med de samme hardware- og softwareværktøjer. Dette nedsætter datakoordineringstiden og giver en kortere time-to-market.
Semiconductor Test Systemets åbne og modulære arkitektur giver ingeniører adgang til den nyeste PXI-instrumentering i modsætning til traditionelt ATE-udstyr med en lukket arkitektur. Dette er især vigtigt til RF- og mixed-signal test, da kravene til de nyeste halvlederteknologier ofte overstiger den testdækning, som det traditionelle ATE-udstyr kan klare. STS bliver på softwaresiden drevet af NI’s TestStand testmanagementsoftware og LabVIEW systemdesignsoftware og leveres med et righoldigt sæt af features til halvlederproduktionsmiljøer, inkl. et brugerdefinerbart operatørinterface, handler/prober integration, device-centreret programmering med pin-kanal mapping, standard testdataformat rapportering og integreret multi-site understøttelse. Med disse features kan ingeniører hurtigt udvikle, debugge og eksekvere testprogrammer og dermed opnå en kortere time-to-market. Med et fuldt indkapslet ‘zero-footprint’ testhoved, standard interfacing og dockingteknik leveres STS endvidere parat til at blive integreret i en halvleder-produktionstestcelle.
STS-serien indeholder tre forskellige modeller benævnt T1, T2 og T4, der er forsynet med henholdsvis et, to eller fire PXI-chassiser. Disse forskellige testsystemstørrelser sammen med fælles software, instrumentering og interkonnekteringsteknik for alle modeller giver ingeniører mulighed for at optimere testsystemet til en bred vifte af pin-tal- og site-tal krav. Endvidere gør Semiconductor Test Systemets skalérbarhed, at det i praksis kan anvendes hele vejen fra karakterisering til produktion med de fordele, som ikke blot optimerede omkostninger, men også en meget forenklet datakoordinering giver for at gøre ‘time-to-market’ endnu kortere.
For at sikre kundernes succes tilbyder NI undervisning, produkter og serviceydelser, der understøttes af NI’s erfarne ingeniører og NI’s Alliance Partnere over hele verden.
Brugere, der ønsker mere information om NI’s nye Semiconductor Test System (STS) serie, kan besøge NI’s web-site, http://www.ni.com/sts.
National Instruments Danmark
Tlf.: 45 76 26 00
